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白光干涉仪

简短(duan)描绘(hui)：Xper WLI 是(shi)一款(kuan)用于对各种精(jing)密(mi)器(qi)件(jian)(jian)及材(cai)料(liao)表(biao)面(mian)(mian)进行(xing)亚纳(na)米(mi)级测(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)的检(jian)测(ce)(ce)仪(yi)器(qi)。它是(shi)以白光(guang)干(gan)涉技(ji)术(shu)为原理(li)、结合(he)精(jing)密(mi)Z向扫描模块、3D 建模算(suan)法等对器(qi)件(jian)(jian)表(biao)面(mian)(mian)进行(xing)非接(jie)触式扫描并(bing)建立表(biao)面(mian)(mian)3D图(tu)像，通(tong)过系统软件(jian)(jian)对器(qi)件(jian)(jian)表(biao)面(mian)(mian)3D图(tu)像进行(xing)数据处理(li)与分析(xi)，并(bing)获取反映器(qi)件(jian)(jian)表(biao)面(mian)(mian)质(zhi)量(liang)(liang)(liang)的2D、3D参数，从而实(shi)现(xian)器(qi)件(jian)(jian)表(biao)面(mian)(mian)形(xing)貌3D测(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)的光(guang)学检(jian)测(ce)(ce)仪(yi)器(qi)。白光(guang)干(gan)涉仪(yi)

设备具体型号：Xper WLI

零售商概念：代理商

发布日子：2021-06-02

访问量：1592

品牌	其他品牌	产地类别	进口
应用领域	医疗卫生,生物产业,电子,航天,综合

白光干涉仪

Xper WLI 是款使用在对繁多五金机械元功率功率器材及的材料的接触性面开始亚微米级衡量的測量实验仪器设备。它是以白灯打搅新技术为原里、结合实际五金机械Z向论文检测APP板块、3D 建模制作图形文件匹配等对元功率功率器材的接触性面开始非接触性式论文检测APP并确立的接触性面3D图形文件，根据设备APP对元功率功率器材的接触性面3D图形文件开始资料工作与了解，并修改展现元功率功率器材的接触性面产品质量的2D、3D性能参数，以此满足元功率功率器材的接触性面形貌3D衡量的电子光学測量实验仪器设备。

优势：

价格优势：市场上性价比的白光干涉仪。

简约易用：只需将原辅料放到于原辅料舞台上，能够一直采取校正；可不就可以预估非打交道式非十分平整光滑土样：鉴于电子光电技术线条线预估法就是种非打交道式枝术，可不就可以随意预估内弯和各种非平米的外面。还随意地预估弧面的的外面光亮度，质感和不光滑度。除此以外，当做一款非打交道式技巧电子光电技术线条线仪不要像检测器式线条线仪那烧坏柔滑的胶片。免修改耗品：只需要某个LED点光源，免相关硬件修改；可视化研究分析3D性能：Xper WLI轮廓线仪兼备力量强大的补救应用，应用除收录表层变厚度，款式和台价长度的衡量外，还可能任意尺寸的偏角可移动样板量测二维立体图形，多的偏角研究分析样板图象。

应用领域：

奈米似然法的料厚和轮廓线条检则WLI和PSI模型准换工業广泛应用：检样和轮廓线在线检测样本类形：半导晶圆，纳米级元件，微生物材质，MEMS:微電子机械装备体系，lED有光场效应管

规格

作用：白炽干涉仪作用的主要用途：外壁三维图像剖面检测，外壁粗糙，度检测Z轴辨别好坏率：1.75nm CCD 签别率：2464*2056扫描拍摄位置：30 μm物镜：10X, 20X, 50X, 100X照明电器：LEDPSI模式切换滤光片器件：532，633nm（内见光条件：400-750nm）图片软件功能表：定时测试條件设有后期的正确处理：平整正确处理/ z轴操作因素设计/偏移量操作，X / Y轴边界导入

成像案例：

半导体器件

牙齿表面分析

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