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GHz振动观察测量系统(基于Sagnac干涉仪)

简(jian)短简(jian)述:GHz振动观(guan)察测(ce)量系(xi)统(基于(yu)Sagnac干(gan)(gan)涉仪(yi))基于(yu)Sagnac干(gan)(gan)涉仪(yi)原理,专门为特殊(shu)样品的(de)高频振动的(de)可视化而设计(ji)的(de)。

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详细说明解绍
产地类别国产

GHz振动观察测量系统(基于Sagnac干涉仪)

伴(ban)随(sui)着电讯的(de)(de)的(de)(de)增加(jia)(jia)和工业化的(de)(de)上哪几个区(qu)域对高效和优产品电讯系统(tong)的(de)(de)市(shi)场的(de)(de)需求(qiu)愈(yu)发的(de)(de)增加(jia)(jia)。相当(dang)是(shi)(shi)连续(xu)的(de)(de)增加(jia)(jia)的(de)(de)智慧(hui)的(de)(de)手机和云科技(ji)网市(shi)场的(de)(de)。GHz频(pin)段(duan)振动装置被(bei)认为是(shi)(shi)这(zhei)部(bu)分技(ji)术的(de)(de)基础和重(zhong)要组成(cheng)部(bu)分例如 叉指换能器(IDT)。是(shi)(shi)在迅速(su)网络通信(xin)(xin)新时(shi)间(jian)快速(su)发展的(de)(de)新时(shi)间(jian),使用于查重(zhong)和浅析(xi)GHz频(pin)段(duan)分析(xi)的(de)(de)设(she)备却相对比(bi)较匮乏,为了充(chong)分支(zhi)持GHz频(pin)段(duan)设(she)备的(de)(de)发展我们研发了基于Sagnac 干涉仪的(de)(de)GHz频(pin)段(duan)的(de)(de)高频(pin)振动观(guan)察系统(tong)。该系统(tong)不仅可(ke)以进行基本的(de)(de)高频(pin)分析(xi),而且可(ke)以探(tan)测到在低频(pin)区(qu)遗漏的(de)(de)高频(pin)信(xin)(xin)号。

GHz振动观察测量系统(基于Sagnac干涉仪)

 

高頻激振(zhen)(GHz)监(jian)测体统(tong)基本概(gai)念Sagnac打(da)搅仪机制(zhi),专(zhuan)业为特俗试品(pin)管(guan)(guan)理(li)(li)的(de)高頻激振(zhen)的(de)消息可(ke)(ke)视(shi)化数据而(er)开发的(de)。激光束完成(cheng)Sagnac打(da)搅仪的(de)照射到(dao)激振(zhen)试品(pin)管(guan)(guan)理(li)(li)上使体统(tong)得到(dao) 打(da)搅移(yi)动移(yi)动电(dian)磁波(bo),打(da)搅移(yi)动移(yi)动电(dian)磁波(bo)和(he)试品(pin)管(guan)(guan)理(li)(li)能(neng)够(gou)移(yi)动移(yi)动电(dian)磁波(bo)都用(yong)锁相调大器处理(li)(li)。记录卡消息和(he)量测职位可(ke)(ke)转(zhuan)化成(cheng)为视(shi)频图(tu)片各(ge)式,进而(er)使激振(zhen)分布(bu)不均(jun)消息可(ke)(ke)视(shi)化数据。

  

 

 

食品特性:

运行机光为探头,实现了(le)非沾染自动测量

Sagnac干预仪对中频的(de)迅敏度低(di),不(bu)错不(bu)被静态(tai)中频噪声后果

系统自(zi)动集(ji)中校准工作(zuo)

二维FFT外(wai)理,保(bao)证 滤波能力(li)

 

操作实例:

 

 

类产品指标:

Product Model

MLD 101Series

Measurement Vibration Range

50MHz-3GHz

Signal Generator

Supporting 3GHz, +17dBm signal output (2 channel, SMA ports)

Laser light source

650 nm (Typ.) Diode Laser

Single laser spot size

1 mm with ´100 objective lens

Microscope

Lens revolver type

Objective lens selection

´20 (W.D.: 12mm)

´50 (W.D.: 10.6mm)

´100(W.D.: 3.4mm)

´5 ;Lens is available for measurement positioning

Motorized stage

X-Y axis, and focusing

XY stage motion range

± 12.5 mm(Typ) with positioning resolution 0.1 mm

Sample signal interface requirement

SMA connector and base substrate


 

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