物品尺寸：
| 产地类别 | 国产 |
|---|
变温/高低温探针台
变温微测(ce)试探针(zhen)台是在其他温度(du)表下(xia)为半导体(ti)原料原料打造(zao)侧量的设(she)施(shi)。该app平台(tai)食用焦耳-汤姆逊能否(fou)为仿品70-730K具有广(guang)泛性(xing)(xing)的(de)变(bian)温(wen)(wen)规模，灵活运(yun)用(yong)环境体(ti)温(wen)(wen)设定器(qi)使凸显(xian)的(de)环境体(ti)温(wen)(wen)安全性(xing)(xing)和重新性(xing)(xing)，控(kong)温(wen)(wen)高精度(du)大(da)约到(dao)±0.1K，识别率(lv)能够达到(dao)到(dao)0.01K，并对温暖转变 有超快的崩(beng)溃(kui)效率。该(gai)设(she)施设(she)备可(ke)(ke)便(bian)捷选定(ding)微探头的(de)使用量(liang)，zui多可(ke)(ke)给出7个检测器，每项检测器可(ke)搞定二(er)维余(yu)地的活动(dong)，X/Y/Z往返(fan)区别为(wei)25 mm x 25 mm x 6 mm定位(wei)精度能达到50毫米。进口真空测(ce)试探针(zhen)台
变温/高低温探针台
变(bian)温(wen)(wen)(wen)微自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)探(tan)(tan)(tan)头(tou)(tou)(tou)(tou)系(xi)统(tong)性、变(bian)温(wen)(wen)(wen)微自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)探(tan)(tan)(tan)头(tou)(tou)(tou)(tou)系(xi)统(tong)、超(chao)超(chao)温(wen)(wen)(wen)度过低微自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)探(tan)(tan)(tan)头(tou)(tou)(tou)(tou)系(xi)统(tong)，变(bian)温(wen)(wen)(wen)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)探(tan)(tan)(tan)头(tou)(tou)(tou)(tou)台(tai)(tai)，超(chao)超(chao)温(wen)(wen)(wen)度过低自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)探(tan)(tan)(tan)头(tou)(tou)(tou)(tou)台(tai)(tai)，控温(wen)(wen)(wen)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)探(tan)(tan)(tan)头(tou)(tou)(tou)(tou)台(tai)(tai)，控温(wen)(wen)(wen)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)探(tan)(tan)(tan)头(tou)(tou)(tou)(tou)台(tai)(tai)，半导(dao)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)探(tan)(tan)(tan)头(tou)(tou)(tou)(tou)台(tai)(tai)，高超(chao)超(chao)温(wen)(wen)(wen)度过低自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)探(tan)(tan)(tan)头(tou)(tou)(tou)(tou)台(tai)(tai)，真空箱(xiang)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)自(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)测(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)探(tan)(tan)(tan)头(tou)(tou)(tou)(tou)台(tai)(tai)
变温微探(tan)头台（高低温环(huan)境探(tan)头台）是(shi)在其他高温下(xia)（70K-730K）为半导(dao)体设备原料（列如砷化镓、非晶硅、碲镉汞等）提拱(gong)(gong)(gong)准确(que)测量的机(ji)。该(gai)系统可提拱(gong)(gong)(gong)准确(que)的摄氏度(du)保持和无机(ji)械振动(dong)无氛(fen)围噪声的工作中氛(fen)围。该(gai)机(ji)可提拱(gong)(gong)(gong)1到7个不(bu)相(xiang)同(tong)的探头(tou)总数量，每种探头(tou)可在X,Y,Z5个坐标值轴上人格(ge)独(du)立的(de)运转。也可(ke)以(yi)分析在10´12mm的(de)样品英文(wen)上的(de)一些所在位置，表面粗糙度大(da)约(yue)到50mm就能够提供就能够程序执行各(ge)种各(ge)样检测和实(shi)验(yan)所的品(pin)台，列如 电特(te)点和深度瞬态光谱仪。
该设备采用焦(jiao)耳-汤姆逊(xun)摄氏度电商平(ping)台提高各种不同的摄氏度，可提高恒温 (300K) 、70K 到580K、300K 到730K这么(me)几种(zhong)多种(zhong)的温度控制面(mian)积。的使用(yong)AUK2000温差(cha)调整器可出具的(de)溫(wen)度比较(jiao)可靠稳定性分(fen)析和重复使用性，控温计算精度led光通(tong)量到±0.1K，判定率多达到0.01K，并对室(shi)温转变 有越(yue)来越(yue)快的积(ji)极(ji)响应运行速(su)度。
变温微(wei)测(ce)试(shi)(shi)电极(ji)台机系统(tong)可能(neng)有数个选(xuan)项卡自顶(ding)朝(chao)下光学材料元器件、齿轮泵、文件传输菜单栏、光仟测(ce)试(shi)(shi)电极(ji)操(cao)控(kong)器、细(xi)密测(ce)试(shi)(shi)仪器抗(kang)震台等(deng)。为试(shi)(shi)验(yan)室(shi)能(neng)提供诸(zhu)多的试(shi)(shi)验(yan)功(gong)能(neng)和成功(gong)的人。
u 主耍结构特(te)征
- 输出(chu)模块(kuai)开发（都可以依照属于自(zi)己的(de)进行实验标准和资金投入显卡(ka)配置(zhi)）
- 面积(ji)密集
- 优(you)良的高(gao)温固明(ming)确和(he)再次出现性
- 广(guang)使用范(fan)围的操作方法温度表 70K-730K
- 在(zai)使用焦耳汤姆(mu)逊软件(jian)平台，无全自动制冷剂
- 低额定(ding)功(gong)率
u 主要软件(jian)
光学(xue)薄(bo)(bo)膜(mo)薄(bo)(bo)膜(mo)元件的(de)实(shi)验(yan)(yan)、深透(tou)瞬态光谱图的(de)实(shi)验(yan)(yan)、微实(shi)操、电(dian)器元件自动测量、光钎光学(xue)薄(bo)(bo)膜(mo)薄(bo)(bo)膜(mo)元件摄像头采(cai)光和光学(xue)薄(bo)(bo)膜(mo)薄(bo)(bo)膜(mo)元件的(de)实(shi)验(yan)(yan)、物(wu)料的(de)实(shi)验(yan)(yan)、IC測試、红外探测器器測試、微电(dian)气(qi)程(cheng)序等。
上海市徐汇区虹梅路2007号6号楼3楼
info@auniontech.com
