品牌 | 昊量光电 | 供货周期 | 现货 |
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应用领域 | 综合 |
Micro-LED晶(jing)圆台测试(shi)测试(shi)体统
渐渐Mini-LED晶圆台检验软件软件和Micro-LED 晶圆台检验软件软件(简称为M-LED)尺⼨的⼤幅缩⼩,光通量的增涨,检查测量难度很大在一个劲提高,检查测量总数也在⼤幅上升,对其综和光学公司效能参数的检查测量也给出了许多更行的耍求。与其,Aunion Tech开售了最顶配设计的⾃主国际品牌晶圆级I-V-L-S综和光学公司效能参数各种考试台系統。 Micro-LED 晶圆台各种考试系統可能⽀持蕞⼩10um尺⼨的Micro-LED的唤醒各种考试;可能⽀持男士正装或倒装M-LED的测式;仅仅能(neng)(neng)(neng)对单 颗M-LED进(jin)⾏I-V-L(感应电(dian)流-电(dian)压值-饱(bao)和度(du)(du))拟合(he)曲线(xian)的测式,还能(neng)(neng)(neng)得(de)到⾊度(du)(du)、主波⻓DWL和光谱深入(ru)分(fen)(fen)析个人(ren)信息;仅仅能(neng)(neng)(neng)观擦单颗LED⾃身的饱(bao)和度(du)(du)、⾊度(du)(du)地(di)理(li)分(fen)(fen)布范围,还能(neng)(neng)(neng)改(gai)变(bian)对阵列M-LED的饱(bao)和度(du)(du)、⾊度(du)(du)、波⻓粗糙性(xing)地(di)理(li)分(fen)(fen)布范围进(jin)⾏预估和深入(ru)分(fen)(fen)析。 Micro-LED 晶圆台测式机系统(tong)改(gai)变(bian)了对M-LED的合(he)理(li)微电(dian)子性(xing)能(neng)(neng)(neng)指标测式,是Micro-LED/Mini-LED企(qi)业研发管(guan)理(li)、实验所的论文检测机 。
M-LED的I-V-L-S综合(he)性光电产品性能(neng)指标测试英文台(tai)
• 显微影(ying)像+测试(shi)探针开(kai)起摸块:蕞⼩⽀持10um尺⼨Micro-LED产品的(de)
• 超(chao)⼤分度值的综(zong)和(he)光电材料耐(nai)热性(xing)测试(shi)方法
- I-V-L-S测验ibms线(xian)(xian)电压电流(liu)、线(xian)(xian)电压、色彩饱(bao)和(he)度、⾊度、主波⻓、光谱分析(xi)等多(duo)重信(xin)息(xi)
- 可(ke)⽀持0.0001-1010 cd/m² 超⼤测(ce)量(liang)范围,完整(zheng)版(ban)软(ruan)件测(ce)试(shi)M-LED的基本(ben)特性(xing)
- ⽀持100pA到1A的超(chao)⼤量限测(ce)量
• 紧(jin)密(mi)运⾏保(bao)持台
• 隔振光学元件app平台
Micro-LED晶圆台测试系统技术规格: