產品具体型号：MPROBE 50 INSITU
| 品牌 | 其他品牌 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 生物产业,电子,综合 |
| 原位薄膜厚度测量仪 | MPROBE 50 INSITU |
原位薄膜厚度测量仪
原位薄膜厚度测量仪用于测量薄(bo)膜厚度(du)和(he) n&k（光(guang)学(xue)常(chang)数）的实时(shi)光(guang)学(xue)测量仪。该系统可以(yi)在高(gao)环境光(guang)下(xia)工(gong)作，因为它(ta)使(shi)用门控数据采集，使(shi)用高(gao)强度(du)闪光(guang)氙(xian)灯在宽带(dai) ( UV-NIR) 波长范围内(nei)进(jin)行(xing)精确测量。MProbe 50 系统是*可定制的，以(yi)支持不同的蒸空室几(ji)何形(xing)状。根据可(ke)用的(de)光(guang)(guang)学(xue)端口，可(ke)以使(shi)用斜入射(she)(she)或垂(chui)直(zhi)入射(she)(she)。光(guang)(guang)可(ke)以聚焦在样品表面或准直(zhi)。反(fan)射(she)(she)探头可(ke)以放(fang)置在沉积室光(guang)(guang)学(xue)端口的(de)外部或内部（使(shi)用光(guang)(guang)纤馈通）。MProbe 50 系统没有活动部件。典型(xing)测量时(shi)间~10ms。可(ke)以快速(su)可(ke)靠地测量任何半透明薄(bo)膜。
强势：
1.原(yuan)位透气膜强度和 n&k 精(jing)确测量(liang)
2.使用高生(sheng)活(huo)环(huan)(huan)境(jing)光生(sheng)活(huo)环(huan)(huan)境(jing)下估(gu)测的(de)门控数据(ju)资料采集程序
3.用料(liao)：500+ 发展原材(cai)料(liao)数(shu)据资料(liao)库(ku)
4.不间断、快和(he)牢(lao)靠的检测的
5.协调性的配(pei)置单——*自定义以配(pei)对沉积物室的代数(shu)的样(yang)子
选择表单：
MProbe50 | 主波长依据 | 层厚范畴 |
VIS | 400nm -1100nm | 15nm – 20 μm |
HRVIS | 700nm-1000nm | 1μm-400μm |
NIR | 900nm-1700nm | 100nm – 200μm |
UVVisF | 200nm -900nm | 1nm – 20μm |
UVVISNIR | 200nm-1700nm | 1nm -200μm |
XT | 1590nm -1650nm | 10μm-1mm |
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