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品牌	其他品牌	产地类别	进口
应用领域	环保,电子	精度	0.01nm或0.01%

膜厚测量仪（测量厚度1nm~1.8mm）MPROBE - MAKING THIN FILMS THICKNESS MEASUREMENT EASY

USASemisonsoft厂家(jia)MProbe系类pe膜(mo)测(ce)厚仪衡(heng)量(liang)(liang)厚薄可以低至(zhi)1nm，厚至(zhi)1.8mm，埃级辩(bian)别率，非沾染式无损音乐快(kuai)(kuai)衡(heng)量(liang)(liang)。宽泛技术应用在(zai)不同的(de)生育或研究方(fang)案中(zhong)，比(bi)方(fang)说衡(heng)量(liang)(liang)pe膜(mo)大单(dan)体电池电池组(zu)的(de)CIGS层，触模屏(ping)中(zhong)的(de)ITO层等(deng)。大部门透(tou)光或弱消化吸收(shou)的(de)pe膜(mo)均可以快(kuai)(kuai)速(su)且稳定的(de)被测(ce)量(liang)(liang)

预估操作过程：当(dang)关(guan)联规定光波波长(zhang)的(de)范围的(de)太阳光照晒射进bopp复(fu)合(he)膜上时，从同(tong)用户界面上反射层的(de)光相位不相同(tong)，关(guan)键在于影响干(gan)扰造成強度(du)相长(zhang)或(huo)相消(xiao)。而这样(yang)(yang)強度(du)的(de)谐振(zhen)是(shi)与(yu)bopp复(fu)合(he)膜的(de)结构类(lei)型关(guan)联的(de)。按照对这样(yang)(yang)谐振(zhen)曲(qu)线拟合(he)和(he)傅里叶调(diao)换就可提升合(he)格品板材的(de)厚度(du)和(he)关(guan)联的(de)光学元件常(chang)数(shu)。

词有：半导体技术（硅，多晶硅硅，多晶硅）半导化学物质（AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS）光电子器件自动化机械（MEMS）钝化物/氮化物光刻胶硬表层（炭化硅，类金刚石炭）缩聚物纳米涂层（聚对二甲苯，聚甲基丙烯酸酯甲酯，尼龙6）得碳原子整合物

MProbe膜厚测量仪（测量厚度1nm~1.8mm）操(cao)(cao)作(zuo)简(jian)(jian)单(dan)，只需(xu)一键操(cao)(cao)作(zuo)即可(ke)(ke)获得样品(pin)的厚(hou)度(du)(du)、折射率(lv)（n, k）和表面(mian)粗糙(cao)度(du)(du)等信息，膜(mo)厚(hou)测量(liang)设(she)备可(ke)(ke)支(zhi)持不同(tong)光(guang)谱范(fan)围(wei)，光(guang)谱范(fan)围(wei)可(ke)(ke)达200-1700nm，因此可(ke)(ke)测量(liang)厚(hou)度(du)(du)范(fan)围(wei)可(ke)(ke)从1nm到2mm。设(she)备中无移(yi)动组件(jian)，所以(yi)测量(liang)结(jie)果几乎是即时得到的；TFCompanion测量(liang)软件(jian)使(shi)得测量(liang)过程非常简(jian)(jian)单(dan)且透明，测量(liang)历(li)史(shi)、动态测量(liang)、模拟、颜色分析、直(zhi)接在样品(pin)图像(xiang)上显示结(jie)果。

膜厚检测仪总类： 1、单点膜厚测试——MPROBE-20MPROBE-20膜厚在检测仪一款台式机单点膜厚在測量机器主设备，机器主设备操作的简单的，一健拿到图纸的强度和折射角率，并可给出有所不一样中波段範圍（选于有所不一样强度膜）选取。MPROBE-20具备有左右这几种材质，客服可要根据自行流程的光谱範圍和膜强度采取选取。

可供进行应用：

款式	光的波长区域	基本点安装	层厚区间
VIS	200nm -1100nm	F3 Ariel Spectrometer, 2048/4096 pix cmos, 16 bit ADC, 5W Tungsten-Halogen lamp	10nm – 75 μm
UVVISSR	700nm -1100nm	F4 Spectrometer, 2048 pix (backthinned),16 bit ADC 20W TH lamp, 30W Deuterium short-ark lamp	1nm -75μm
VIS-HR	900nm-1700nm	F4 Spectrometer, 2048 pix (backthinned),16 bit ADC, 5W TH lamp	1μm-400μm
NIR	200nm-800nm	F4 spectrometer, InGaAs detector 512 pix., 16 bit ADC, 5W TH lamp	50nm – 85μm
UVVisF	200nm -1700nm	F4 spectrometer, Si detector 2048 pixels ccd, 16 bit ADC, 10W Xe flash lamp	1nm – 5μm
UVVISNIR	1500nm-1550nm	F4 Spectrometer, 2048pix (backthinned),16 bit ADC 20W TH lamp, 30W Deuterium short-ark lamp. F4spectrometer, InGaAs detector 512 pix., 16 bit ADC, 5W TH lamp	1nm -75μm
NIRHR	200nm -1100nm	F4 spectrometer, InGaAs detector 512 pix., 16 bit ADC, 5W TH lamp or SLDoption	10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si)

2、单点手提式膜厚衡量——MPROBE HCMPROBE HC膜厚预估仪是款立于MPROBE-20APP发掘专属于预估斜面和巨型零件及运转情况上的镀层，手摸动测试探针取代了打样定制台。

常见参数指标：

精密度较	0.01nm或0.01%
正确度	0.2%或1nm
可靠性	0.02nm或0.03%
聚焦聚尺寸	0.2mm或0.4mm
原辅料长宽高	>25mm
高度的范围	0.05-70um

3、聚焦点黑斑膜厚衡量仪——MPROBE 40MPROBE 40不是款集聚的小黑斑膜厚测定设计，该厂品将显微设计和膜厚测定机器设配搭配下来，使用在对膜厚的微区测定，黑斑多达2μm。该机器设配智能家居控制摄像头和手机app，可准确出现待测位址，并此外出现测定成果。

该机械设备有有差异激发光谱面积可供考虑，可供考虑的企业产品材质下述：

4、原位预估膜厚预估仪——MPROBE 50 INSITUMPROBE 50 INSITU是一种款的搭载原位量测膜厚量测仪，该机选取门控数据文件搜集途径对此是能够在高上班环境光的具体条件下上班。最后该材质膜厚量测仪的搭载定制网站以充分满足各不相同样子的高压气腔。结合快速可用的光学仪器玻璃页面，的搭载斜入射和垂直面入射。采光是能够把握合格品外表面或准直,监测摄像头是能够安装在沉积物室光学仪器玻璃串口内间接或间接，是因为该膜厚量测仪还没有手机部分，一般是量测准确时间约10ms。