液晶空间光调制器常用的校准测量方式

液晶拼接屏位置光调变器所用的进行校正估测方式

其(qi)他的LCOS其(qi)所调变的依据其(qi)他，如此(ci)在应用前几天(tian)，必须要(yao)对每隔(ge)LCOS都来进行调变性能指标的校零。包括衡量形(xing)式有马力(li)计检(jian)测法、马赫—曾(ceng)德干预(yu)形(xing)式、径向截段干预(yu)形(xing)式、泰曼格林(lin)干预(yu)形(xing)式、双(shuang)孔干预(yu)形(xing)式等(deng)。今天(tian)简单的简绍四(si)种。

工作电压计真接(jie)探测系统法(fa)

图1

马力计(ji)一(yi)直探测器(qi)法的(de)工作(zuo)原理图(tu)如图(tu)甲下(xia)图(tu)1下(xia)图(tu)，激光行(xing)业经准直扩(kuo)束后(hou)(hou)(hou)作(zuo)用(yong)在(zai)非偏振分束片上，但(dan)(dan)其中(zhong)散射(she)光经LCOS熬(ao)制(zhi)后(hou)(hou)(hou)全射(she)线(xian)(xian)，全射(she)线(xian)(xian)光经全射(she)线(xian)(xian)镜(jing)全射(she)线(xian)(xian)后(hou)(hou)(hou)作(zuo)可以参考光，与待测的(de) LCOS熬(ao)制(zhi)后(hou)(hou)(hou)的(de)光遭受(shou)约束仪后(hou)(hou)(hou)被马力计(ji)收发(fa)，信息光强(qiang)的(de)变迁。测验方式异(yi)常简短，可是(shi)因此(ci)作(zuo)用(yong)光不再是(shi)认真的(de)成平(ping)行(xing)线(xian)(xian)光，约束仪后(hou)(hou)(hou)的(de)光强(qiang)较难确认wan全不匀，会造成在(zai)测量但(dan)(dan)是(shi)可靠性强(qiang)，精密度低，可是(shi)拥有的(de)相(xiang)位熬(ao)制(zhi)因素但(dan)(dan)是(shi)为整块(kuai)LCOS教学(xue)夜晶层(ceng)表(biao)(biao)皮的(de)的(de)平(ping)均但(dan)(dan)是(shi)，始终无法按照该方式拥有教学(xue)夜晶层(ceng)某一(yi)表(biao)(biao)皮的(de)熬(ao)制(zhi)但(dan)(dan)是(shi)。

马赫-曾德干(gan)扰(rao)策略 

图2

马赫-曾德约(yue)(yue)束(shu)技术原因(yin)图(tu)就像文中2已知。脉冲激光(guang)(guang)(guang)(guang)采(cai)用(yong)首个个BS后将光(guang)(guang)(guang)(guang)平(ping)均分配两路(lu)口，五路(lu)光(guang)(guang)(guang)(guang)由射(she)(she)线强(qiang)度(du)镜射(she)(she)线强(qiang)度(du)到第五个BS，另五路(lu)光(guang)(guang)(guang)(guang)互动(dong)交流(liu)lcd显(xian)示(shi)(shi)器(qi)三(san)(san)维(wei)(wei)前(qian)景(jing)(jing)光(guang)(guang)(guang)(guang)调(diao)(diao)变器(qi)环(huan)境调(diao)(diao)变后，与借(jie)鉴(jian)光(guang)(guang)(guang)(guang)约(yue)(yue)束(shu)。获取的(de)(de)约(yue)(yue)束(shu)斑(ban)纹的(de)(de)比的(de)(de)移動量(liang)成为(wei)lcd显(xian)示(shi)(shi)器(qi)三(san)(san)维(wei)(wei)前(qian)景(jing)(jing)光(guang)(guang)(guang)(guang)调(diao)(diao)变器(qi)的(de)(de)相位调(diao)(diao)变量(liang)。马赫-曾德约(yue)(yue)束(shu)仪采(cai)用(yong)运(yun)算约(yue)(yue)束(shu)图(tu)的(de)(de)比的(de)(de)移動来获取lcd显(xian)示(shi)(shi)器(qi)三(san)(san)维(wei)(wei)前(qian)景(jing)(jing)光(guang)(guang)(guang)(guang)调(diao)(diao)变器(qi)的(de)(de)相位调(diao)(diao)变环(huan)境。马赫-曾德约(yue)(yue)束(shu)立于约(yue)(yue)束(shu)原因(yin)实行估测(ce)，因(yin)为(wei)随(sui)着系(xi)统设计应该的(de)(de)借(jie)鉴(jian)光(guang)(guang)(guang)(guang)为(wei)要严的(de)(de)平(ping)面磨波，对实验性系(xi)统设计的(de)(de)动(dong)态(tai)平(ping)衡性符合(he)要求(qiu)较高，最(zui)后该技术应用(yong)到估测(ce)散(san)射(she)(she)式lcd显(xian)示(shi)(shi)器(qi)三(san)(san)维(wei)(wei)前(qian)景(jing)(jing)光(guang)(guang)(guang)(guang)调(diao)(diao)变器(qi)。

径向切面干涉现象手段

径向抗拉干扰技术运行的基本原理图如图已知3一样，该技术确认对lcd屏空間光熬制器熬制后的波面与本身就错乱后调小和改小的波面行成干扰竖纹，确认多目标优化算法流程图进行分析达到干扰竖纹，以达到lcd屏空間光熬制器的相位熬制基本特征。

图3

在抗拉约束(shu)激光(guang)(guang)光(guang)(guang)路中，将(jiang)扩(kuo)大的波(bo)面(mian)(mian)成为符(fu)合(he)光(guang)(guang)，以免(mian) 了加入增加符(fu)合(he)光(guang)(guang)携带来(lai)的数据误差，坚持了程序的固(gu)判定(ding)，有(you)(you)较高(gao)的精密(mi)度。在记载约束(shu)花(hua)纹(wen)的阶段(duan)中， 专门针对整体(ti)波(bo)面(mian)(mian)确(que)定(ding)记载，只需要这幅约束(shu)图只能(neng)。但(dan)有(you)(you)缺陷是若扩(kuo)大的波(bo)面(mian)(mian)变(bian)异比(bi)大时，将(jiang)不(bu)能(neng)被看(kan)作(zuo)品(pin)面(mian)(mian)波(bo)，约束(shu)花(hua)纹(wen)将(jiang)非常繁复，有(you)(you)不(bu)良影响于(yu)之后的科学(xue)试验(yan)报告治理。

北京昊(hao)量光電机器设(she)(she)备有限集团集团POS机代理的(de)Meadowlark Optics 的(de)硅基(ji)教学液晶 (LCoS) 室内空间光调配器 (SLM) 选用仿真模(mo)拟训(xun)练电流(liu)寻(xun)址，4096（12bit）个仿真模(mo)拟训(xun)练寻(xun)址电流(liu)级(ji)次，做到jue佳的(de)线形度(du)和相位准确无误性，专为纯相位适(shi)用而(er)设(she)(she)计。可给出(chu)高(gao)的(de)回应时段和高(gao)相位比较稳判定。

大(da)部分使用(yong)在定性分析和效正像差的(de)法求都体系(xi)结(jie)构Zernike各项(xiang)式。既(ji)使，对半圆(yuan)形钻孔大(da)小的(de)依赖(lai)于不适使用(yong)在形容正方型形或图(tu)(tu)形阵列的(de)像差。新加(jia)坡Meadowlark Optics集团公司己经(jing)发展了(le)体系(xi)结(jie)构SLM的(de)干涉现象子钻孔大(da)小的(de)方式计划书(shu)，以切(qie)实保障SLM的(de)效果通光区上的(de)像差就(jiu)能(neng)够被效正到λ/ 40或比较好。下述图(tu)(tu)一样， 正畸后(hou)的(de)MLO空間(jian)光调配(pei)器波前像差（波前突变）脸变很(hen)低(di)。

a）最初的1920 x 1200手机像素SLM波前（λ/ 7 RMS）（b）利用了像差矫正的波前（λ/ 20 RMS）（c）未广泛技术应用调整的像差双曲面模型图。（d）广泛技术应用调整后的像差双曲面模型图。

上海昊量光电设备有限公司可以提供1920x1200分辨率的标准款纯相位液晶空间光调制器和1024x1024分辨率超高速的纯相位SLM。

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